System SourceMeter®10 µs 脈沖發(fā)生器/源測量單元 (SMU) 儀器將高電流/高速脈沖發(fā)生器的功能與傳統(tǒng) SMU 的測量及全部功能集于一臺儀器中。其優(yōu)異的 10 A @ 10 V 快達10 μs 脈沖寬度和全 1 MS/s 數(shù)字化功能極大地提升了從臺式檢定到高度自動化脈沖式 I-V 生產(chǎn)測試等應用的效率。

無需手動脈沖調(diào)整即可實現(xiàn)高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統(tǒng)，高達 3μH 的負載變化無需手動調(diào)整，從而確保在任何電流水平（最高 10 安培）下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時，脈沖均不會出現(xiàn)過沖和振蕩。脈沖上升時間 < 1.7 μs，確保您可以正確檢定被測器件或電路。

輸出 10 A @ 10 V，脈沖寬度為 10 μs

脈沖上升時間 <1.7μs，可輕松檢定

高保真脈沖輸出，在任何電流水平下均無需調(diào)整

將快速脈沖發(fā)生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 10 µs 脈沖發(fā)生器/SMU在業(yè)界吉時利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性、速度和準確性基礎上新增脈沖發(fā)生器功能。

通過 1 MS/s 的數(shù)字化功能，實現(xiàn)脈沖發(fā)生器 0.05% 的基本測量精度

SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度

后面板 BNC 連接實現(xiàn)電纜快速設置

嵌入式腳本和連接提供生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界優(yōu)良性能。TSP-Link® 技術支持擴展多達 32 個 TSP 鏈路節(jié)點，以創(chuàng)建高速、SMU-Per-Pin 并行測試（而不使用主機）。

消除與 PC 之間耗時的總線通信

高級數(shù)據(jù)處理和流量控制

連接多達 32 個 TSP 鏈路節(jié)點

隨著測試要求變化輕松重新配置

2601B-PULSE 10 µs 脈沖發(fā)生器/SMU規(guī)格參數(shù)